Knihu momentálně nemáme skladem

Rauhigkeitsmessungen auf kohlenstoffbedampften Kristalloberflächen mit einem Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskop

Autoři

Tobias Schilling

Parametry

ISBN: 9783826515156
Nakladatelství: Shaker

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

1996

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.