Knihu momentálně nemáme skladem

Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie

Autoři

Jun Xu

Parametry

ISBN: 9783896534774
Nakladatelství: Mainz

Kategorie

Skripta a vysokoškolské učebnice

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

1999

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.