Knihu momentálně nemáme skladem

Generation of diagnostic memory tests and on-chip test applikation with special consideration of embedded memories in system-on-chips

Autoři

Dirk Niggemeyer

Parametry

ISBN: 9783898204910
Nakladatelství: Mensch-und-Buch-Verl.

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2003

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.