Verfahren zur dynamisch intelligenten Fehlersuche in komplexen Systemen

Der Einsatz der Elektronik im Fahrzeug hat in den letzten Jahren einen massiven Aufschwung erfahren und gerade in Hinblick auf kommende Fahrerassistenzsysteme ist ein Ende noch nicht absehbar. Dadurch konnte die Sicherheit und der Komfort der Fahrzeuginsassen weiter erhöht werden. Möglich wurde dies durch den Schritt weg von autarken Systemen hin zu verteilten Funktionen. Dabei kommunizieren Steuergeräte über elektrische Datenbussysteme wie CAN oder LIN und über optische wie MOST miteinander. Dadurch können die Systeme Informationen aus dem gesamten Fahrzeug erhalten und auswerten. Bei der massiven Umorientierung der Fahrzeugentwicklung von einer rein maschinenbauorientierten Ausrichtung hin zum Einsatz von mechatronischen Komponenten und Software müssen auch die Servicewerkstätten Schritt halten. Eine große Gefahr für ein Unternehmen entsteht, wenn Servicewerkstätten die komplexen Fahrzeugsysteme nicht mehr beherrschen können und „Try and Error Austausch“ statt gezielter Reparatur praktizieren. Dadurch steigen die Kosten für den Kunden bzw. bei Kulanz für das Unternehmen in nicht mehr wirtschaftliche Höhen. Es kann nicht von den Werkstätten verlangt werden, dass diese sich mit komplett neuem, leistungsfähigeren Testequipment ausstatten und zahlreiche Mitarbeiter zur Weiterbildung in Richtung Elektronikexperten schicken. Daher ist der Einsatz von einem neuen Tool notwendig, das die vorhandene Hardware nutzen und auch von Laien bedient werden kann. Diesen Anforderungen wird die Dynamisch Intelligente Fehlersuche (DIF) gerecht.