Application-driven post-silicon verification of automotive smart power ICs

Steigende Komplexität und höhere Integration von Automotive Smart Power Mikroelektronik erfordert eine Verbesserung der Schaltungsqualität. Neue Richtlinien bezüglich Funktionalität und funktionaler Sicherheit führen dazu, dass sich deren Verantwortung zunehmend vom Zulieferer in Richtung des Halbleiterherstellers bewegt. Dies erfordert neue und verbesserte Verifikationsmethoden um die Funktionalität und die Leistung der analogen und mixed-signal Schaltungen garantieren zu können. Die Arbeit behandelt eine applikationsorientierte Verifikationsmethodik auf Chipebene im Bereich der Laborverifikation. Durch die Emulation verschiedener Komponenten der Automobilelektronik lässt sich die Funktionalität der Mikroelektronik applikationsnah verifizieren. Mit Hilfe einer systematischen Experimentplanung und einer statistischen Analyse individueller Chipparameter wird der Einfluss dieser Applikationsvariationen auf die Funktionalität evaluiert und bewertet. Diese Methodik wird anhand von ausgewählten Applikationen im Bereich der Automobilelektronik demonstriert.