Miláček čtenářů je právě vyprodaný
Hodnocení knihy
Série
Parametry
- 512 stránek
- 18 hodin čtení
Více o knize
A classic series in the field of quantitative measurement, Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance. 1989 edition.
Nákup knihy
Foundations of Measurement Volume II, Amos Tversky, David H. Krantz, R. Duncan Luce, Patrick Suppes
- Jazyk
- Rok vydání
- 2006
- product-detail.submit-box.info.binding
- (měkká)
Jakmile se objeví, pošleme e-mail.
Doručení
Platební metody
Tady nám chybí tvá recenze.
- Titul
- Foundations of Measurement Volume II
- Podtitul
- Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations
- Jazyk
- anglicky
- Vydavatel
- Dover Publications
- Rok vydání
- 2006
- Vazba
- měkká
- Počet stran
- 512
- ISBN10
- 0486453154
- ISBN13
- 9780486453156
- Série
- Základy měření
- Štítky
- Naučná literatura, Společenské vědy, Technologie & Průmysl, Věda & Matematika, Filosofie, Věda, Psychologie, Matematika, Technologie
- Hodnocení
- 3,35 z 5
- Anotace
- A classic series in the field of quantitative measurement, Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance. 1989 edition.