Springer Series in Surface Sciences - 65: Kelvin Probe Force Microscopy
Sascha Sadewasser3 099 Kč
Poslední kus
Filtry
Kč
-Kč
-
Celkem 500+ titulů
Podobná témata:
Springer Proceedings in Physics - 195: Nanophysics, Nanomaterials, Interface Studies, and Applications
Leonid Yatsenko472 KčPoškozená
Computational Microelectronics: Strain-Induced Effects in Advanced MOSFETs
Viktor Sverdlov1 287 KčPoškozená
C pro mikrokontroléry ATMEL AT89S52. 6. díl, Příklady a aplikace pro C51 ve vývojovém prostředí KEIL μVision3
David Matoušek
Electronics Texts for Engineers and Scientists: Simulation in the Design of Digital Electronic Systems
John B. Gosling
