Knihu momentálně nemáme skladem

Charakterisierung von Defekten in Silizium nach Bestrahlung mit leichten Ionen

Autoři

Johann Reisinger

Parametry

ISBN: 9783853699218
Nakladatelství: VWGÖ

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

1993

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.