Knihobot

Strukturcharakterisierung mit Röntgenbeugung, Wachstum und in-situ Oberflächenuntersuchungen von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen

Nákup knihy

Strukturcharakterisierung mit Röntgenbeugung, Wachstum und in-situ Oberflächenuntersuchungen von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen, Marcus J. Kastner

Jazyk
Rok vydání
1997
Jakmile se objeví, pošleme e-mail.

Doručení

Platební metody

Nikdo zatím neohodnotil.Ohodnotit