Knihu momentálně nemáme skladem
Parametry
Více o knize
This critical overview presents experimental methods for solving most frequent structural problems of mono-crystalline thin films and layered systems, including thickness, crystalline state, strain distribution, interface quality and other properties.
Nákup knihy
High resolution X-ray scattering from thin films and multilayers, Václav Holý
- Jazyk
- Rok vydání
- 1999
Jakmile se objeví, pošleme e-mail.
Doručení
Platební metody
Nikdo zatím neohodnotil.