Knihu momentálně nemáme skladem![](/images/blank-book/blank-book.1920.jpg)
![](/images/blank-book/blank-book.1920.jpg)
Charakterisierung von Passivschichten auf Eisen-Silicium-Legierungen mittels oberflächenanalytischer Meßmethoden
Autoři
Parametry
Nákup knihy
Charakterisierung von Passivschichten auf Eisen-Silicium-Legierungen mittels oberflächenanalytischer Meßmethoden, Christine Schmidt-König
- Jazyk
- Rok vydání
- 2000
Jakmile ji vyčmucháme, pošleme vám e-mail.
Doručení
Platební metody
Navrhnout úpravu
- Titul
- Charakterisierung von Passivschichten auf Eisen-Silicium-Legierungen mittels oberflächenanalytischer Meßmethoden
- Jazyk
- německy
- Autoři
- Christine Schmidt-König
- Vydavatel
- Shaker
- Rok vydání
- 2000
- ISBN10
- 3826569369
- ISBN13
- 9783826569364
- Kategorie
- Skripta a vysokoškolské učebnice