Knihu momentálně nemáme skladem

High resolution X-ray scattering from thin films to lateral nanostructures

Autoři

Ullrich Pietsch

Parametry

ISBN: 9780387400921
Nakladatelství: Springer

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2004

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.