Knihu momentálně nemáme skladem

Methoden zur rechnergestützten zeitbezogenen Analyse und Optimierung von Testabläufen beim Test integrierter Schaltungen

Autoři

Heiko Beyer

Parametry

ISBN: 9783183386208
Nakladatelství: VDI-Verl.

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2004

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.