Knihu momentálně nemáme skladem

Thin film analysis by x-ray scattering

Autoři

Mario Birkholz

Parametry

ISBN: 9783527310524
Nakladatelství: Wiley-VCH

Kategorie

Fyzika

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2006

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.