Knihu momentálně nemáme skladem
Parametry
Více o knize
Scientific reviews on scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy Integrates basic scientific and applicational aspects With a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph Gerber Useful reference to researchers and graduate students
Nákup knihy
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology, Bharat Bhushan
- Jazyk
- Rok vydání
- 2016
- product-detail.submit-box.info.binding
- (měkká)
Jakmile se objeví, pošleme e-mail.
Doručení
Platební metody
Nikdo zatím neohodnotil.