Knihu momentálně nemáme skladem

Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen

Autoři

Andreas Leyk

Parametry

ISBN: 9783183694082
Nakladatelství: VDI-Verl.

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

1998

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.