Knihu momentálně nemáme skladem

Charakterisierung von MOS-Transistoren vor und nach Gateoxiddurchbruch

Autoři

Alejandro Avellán Hampe

Parametry

ISBN: 9783183371099
Nakladatelství: VDI-Verl.

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2004

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.