Knihu momentálně nemáme skladem
Parametry
Nákup knihy
Development of ellipsometric microscopy as a quantitative high-resolution technique for the investigation of thin films at glass-water and silicon-air interfaces, Felix Linke
- Jazyk
- Rok vydání
- 2004
- product-detail.submit-box.info.binding
- (měkká)
Jakmile se objeví, pošleme e-mail.
Doručení
Platební metody
Nikdo zatím neohodnotil.