Knihu momentálně nemáme skladem
Parametry
Nákup knihy
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse, Günther von Bünau
- Jazyk
- Rok vydání
- 1981
Jakmile se objeví, pošleme e-mail.
Doručení
Platební metody
Nikdo zatím neohodnotil.