Blog
Kariéra
O nás
Pobočky
Kontakt

Hledej knihu, autora nebo kategorii...

A-F
G-P
Q-Z

A-H
I-P
R-U
V-Z

Pro nejmenší
Pro mladší čtenáře
Pro starší čtenáře
Mládež

Obecné
- Učebnice
- Jazykové slovníky a učebnice
Podle školy
- Středoškolské učebnice
- Vysokoškolské učebnice
Obory

Turistika
- Turistika
- Zeměpis, místopis

Podle jazyka
Anglicky podle žánru

Pro koho to bude?
Oblíbené tipy

Paul Pfäffli

Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices

Vyprodáno

Paul Pfäffli Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices

4,3

Nakupuj a prodávej knihy na jednom místě

Za posledních 24 h jsme přidali 30 662 knih. To je na výšku jako 9,6 Petřínských rozhleden.

Chci prodat knihy

Knihy

Knižní bestsellery
Watchdog
Koupit použité knihy

Prodej

Chci prodat knihy
Kam donést knihy
Jak funguje prodej
Knihotaxi Praha

Nákup

Reklamace

Knihobot

Pobočky
Blog
O nás
Kariéra

Můžeme pomoci?

info@knihobot.cz
+420 228 229 364Každý den od 8 do 20 hodin
Podpora dostupná v angličtině, němčině a češtině

Bezpečnou platbu zajistí

O rychlé dodání se postará

Obchodní podmínky pro nákup
Obchodní podmínky pro obstarání prodeje
Ochrana osobních údajů

SK
AT
DE
COM
ES
IT
NL
FR
BE