Knihu momentálně nemáme skladem

Untersuchungen zur Integration von MOCVD-Titannitridbarriere- und Kupferschichten in Leitbahnsysteme der Mikroelektronik

Autoři

Stephan Riedel

Parametry

ISBN: 9783832201869
Nakladatelství: Shaker

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2002

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.