Knihu momentálně nemáme skladem
Nákup knihy
Untersuchungen zur Integration von MOCVD-Titannitridbarriere- und Kupferschichten in Leitbahnsysteme der Mikroelektronik, Stephan Riedel
- Jazyk
- Rok vydání
- 2002
Jakmile ji vyčmucháme, pošleme e-mail.
Doručení
Platební metody
Nikdo zatím neohodnotil.