Knihu momentálně nemáme skladem
Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren
Autoři
Parametry
Nákup knihy
Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren, Reiner Schieck
- Jazyk
- Rok vydání
- 1998
Jakmile ji vyčmucháme, pošleme vám e-mail.
Doručení
Platební metody
2021 2022 2023
Navrhnout úpravu
- Titul
- Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren
- Jazyk
- německy
- Autoři
- Reiner Schieck
- Vydavatel
- Shaker
- Rok vydání
- 1998
- ISBN10
- 3826539958
- ISBN13
- 9783826539954
- Série
- Berichte aus der Halbleitertechnik
- Kategorie
- Skripta a vysokoškolské učebnice