Knihu momentálně nemáme skladem

Untersuchung der Ladungsträgerkinetik in Silicium und Siliciumgrenzflächen mittels kontaktloser Verfahren

Autoři

Reiner Schieck

Parametry

ISBN: 9783826539954
Nakladatelství: Shaker

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

1998

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.