Knihu momentálně nemáme skladem

Sekundärionen-Massenspektrometrie an Silicium-Waferoberflächen

Autoři

Gitta Egbers

Parametry

ISBN: 9783930962440
Nakladatelství: Schüling

Kategorie

Skripta a vysokoškolské učebnice

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

1998

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.