Přes Balíkovnu doručujeme za 49 Kč

Knihu momentálně nemáme skladem

Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-SiO2

Autoři

Boris Plikat

Parametry

ISBN: 9783897122369
Nakladatelství: Cuvillier

Kategorie

Skripta a vysokoškolské učebnice

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

1998

Nákup knihy

Jakmile ji vyčmucháme, pošleme vám e-mail.