Knihu momentálně nemáme skladem
Parametry
Nákup knihy
Transient ion beam induced charge currents microscopy on high power semiconductor devices, Markus Zmeck
- Jazyk
- Rok vydání
- 2004
Jakmile ji vyčmucháme, pošleme vám e-mail.
Doručení
Platební metody
Navrhnout úpravu
- Titul
- Transient ion beam induced charge currents microscopy on high power semiconductor devices
- Jazyk
- anglicky
- Autoři
- Markus Zmeck
- Vydavatel
- Shaker
- Vydavatel
- 2004
- Vazba
- měkká
- ISBN10
- 3832234284
- ISBN13
- 9783832234287
- Kategorie
- Skripta a vysokoškolské učebnice