Knihu momentálně nemáme skladem

Infrared ellipsometry for the investigation of interfacial layers and thin organic films on silicon

Autoři

Michael Gensch

Parametry

ISBN: 9783898209069
Nakladatelství: Mensch-und-Buch-Verl.

Kategorie

Skripta a vysokoškolské učebnice

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2005

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.