Knihu momentálně nemáme skladem

Dopant imaging and profiling of wide bandgap semiconductor devices

Autoři

Marco Buzzo

Parametry

ISBN: 9783866281240
Nakladatelství: Hartung-Gorre

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2007, měkká

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.