Knihu momentálně nemáme skladem
Erweiterungen der Scatterometrie zur modellbasierten optischen Nanometrologie von Halbleiterstrukturen
Autoři
Parametry
- ISBN
- 9783923560998
- Nakladatelství
- Institut für Technische Optik, Universität Stuttgart
Kategorie
Varianta knihy
2019Nákup knihy
Kniha aktuálně není skladem.