Entwicklung eines Verfahrens zur Darstellung der Transmittanz von bündelführenden optischen Komponenten unter spezieller Berücksichtigung der Polarisation

Hersteller von Lichtquellen vermessen ihre Produkte typischerweise im ortsbezogenen Nahfeld und richtungsbezogenen Fernfeld unter Einsatz eines Goniometers. Die Messergebnisse werden dann bei hochwertigen Lichtquellen als Diagramme zur Abstrahlcharakteristik in Datenblättern bereitgestellt. Für weiterführende technologische Entwicklungen reichen diese Diagramme häufig nicht aus. Hinzu kommt, dass es weltweit nur wenige Dienstleister gibt, die spezifische Charaktereigenschaften von Lichtquellen und optischen Komponenten darstellen können. Der Phasenraum ist ein deutlich aussagekräftigeres Diagramm, in dem für eine Orts-und eine Richtungskoordinate die Lichtcharakteristik dargestellt wird. Auch die vorliegenden Messungen, welche mit dem seit 1998 an der LEUPHANA Universität Lüneburg entwickelten und eingerichteten Goniometer durch geführt wurden, werden unter Anwendung des Phasenraumes dargestellt. In Anknüpfung an diese Vorarbeiten wird in dieser Arbeit dargelegt, wie eine Darstellung von Polarisationseigenschaften auf dem Phasenraum realisiert werden kann. Finalisiert sollten einzelne optische Komponenten eines Objektives oder Ensembles der Komponenten über Musteridentifiziert werden können, durch Charakteristiken von Intensitäten und Polarisationen auf dem Phasenraum. Aus der Historie heraus sind einige messtechnische Probleme des Goniometer bekannt. So wird im Rahmen der vorliegenden Arbeit gezeigt, wie es möglich ist, zwei virtuelle Achsen in einem gemeinsamen Drehpunkt kreuzen zu lassen. Mit diesem Verfahren ist zu dem ein Restfehler bestimmbar, der mit einem aktiven Korrekturverfahren weiter reduziert werden kann. Weiter führend wird dargelegt, in wieweit ein Analysator für das Messen der Polarisation in das Goniometer integriert werden konnte. Dazu gehört die Art und Weise der Dateiablage, entsprechende Modifikationen am Programm, sowie das Schaffen einer geeigneten Messlichtquelle. […]