Knihu momentálně nemáme skladem

Zur Herstellung und elektrischen Charakterisierung von Gate-Oxiden auf Siliziumkarbid

Autoři

Elard Gottfried Stein von Kamienski

Parametry

ISBN: 9783826520303
Nakladatelství: Shaker

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

1996

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.