Knihu momentálně nemáme skladem
Parametry
Kategorie
Nákup knihy
Thermoelastic analysis of devices by scanning near field thermal microscopy techniques, Anne Katrin Geinzer
- Jazyk
- Rok vydání
- 2010
Jakmile ji vyčmucháme, pošleme vám e-mail.
Doručení
Platební metody
Navrhnout úpravu
- Titul
- Thermoelastic analysis of devices by scanning near field thermal microscopy techniques
- Jazyk
- anglicky
- Autoři
- Anne Katrin Geinzer
- Vydavatel
- Der Andere Verl.
- Vydavatel
- 2010
- ISBN10
- 3862470970
- ISBN13
- 9783862470976
- Kategorie
- Skripta a vysokoškolské učebnice