Knihu momentálně nemáme skladem

Thermoelastic analysis of devices by scanning near field thermal microscopy techniques

Autoři

Anne Katrin Geinzer

Parametry

ISBN: 9783862470976
Nakladatelství: Der Andere Verl.

Kategorie

Skripta a vysokoškolské učebnice

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2010

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.