Knihu momentálně nemáme skladem

GaN HEMT modeling including trapping effects based on Chalmers model and pulsed S-parameter measurements

Autoři

Peng Luo

Parametry

ISBN: 9783736999060
Nakladatelství: Cuvillier Verlag

Kategorie

Navrhnout úpravu

Varianta knihy

2018

Nákup knihy

Kniha aktuálně není skladem.