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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
Nákup knihy
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen, Peter Baumann
- Jazyk
- Rok vydání
- 2024
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- (měkká)
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- Titul
- Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
- Podtitul
- Simulation mit PSPICE
- Jazyk
- německy
- Autoři
- Peter Baumann
- Vydavatel
- Springer Fachmedien Wiesbaden
- Rok vydání
- 2024
- Vazba
- měkká
- Počet stran
- 262
- ISBN10
- 3658438207
- ISBN13
- 9783658438203
- Série
- Štítky
- Naučná literatura, Umění & Kultura, Technologie & Průmysl, Architektura, Architektura & Urbanismus
- Anotace
- Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.