Vyprodáno
X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition
Parametry
- 238 stránek
- 9 hodin čtení
Nákup knihy
X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition, Richard C. Kebart, Raphael R. Alvarado, Noreen P. Kebart, Graham T. Curtis, John F. Lontz
- Jazyk
- Rok vydání
- 1976
- Vazba
- (kroužková)
Jakmile se objeví, pošleme e-mail.
Doručení
Platební metody
Nikdo zatím neohodnotil.
- Titul
- X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition
- Jazyk
- anglicky
- Rok vydání
- 1976
- Vazba
- kroužková
- Počet stran
- 238
- ISBN10
- 0874884438
- ISBN13
- 9780874884432
- Série
- Štítky