Knihobot

X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition

Parametry

  • 238 stránek
  • 9 hodin čtení

Nákup knihy

X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition, Richard C. Kebart, Raphael R. Alvarado, John F. Lontz, Graham T. Curtis, Noreen P. Kebart

Jazyk
Rok vydání
1976,
Stav knihy
Poškozená
Cena
59 Kč

Doručení

Platební metody

Nikdo zatím neohodnotil.Ohodnotit

Titul
X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition
Jazyk
anglicky
Rok vydání
1976
Počet stran
238
ISBN10
0874884438
ISBN13
9780874884432
Série
Štítky