Knihobot

X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition

Parametry

  • 238 stránek
  • 9 hodin čtení

Nákup knihy

X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition, Richard C. Kebart, Raphael R. Alvarado, John F. Lontz, Graham T. Curtis, Noreen P. Kebart

Jazyk
Rok vydání
1976
Jakmile se objeví, pošleme e-mail.

Doručení

  • Doprava zdarma od 499 Kč po celém Česku! Více info

Platební metody

Nikdo zatím neohodnotil.Ohodnotit

Titul
X-Ray Technology Examination Review Book - Second Edition
Jazyk
anglicky
Rok vydání
1976
Počet stran
238
ISBN10
0874884438
ISBN13
9780874884432
Série
Štítky