Knihu momentálně nemáme skladem
Parametry
Nákup knihy
Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices, Paul Pfäffli
- Jazyk
- Rok vydání
- 1999
Jakmile ji vyčmucháme, pošleme vám e-mail.
Doručení
Platební metody
Navrhnout úpravu
- Titul
- Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices
- Jazyk
- anglicky
- Autoři
- Paul Pfäffli
- Vydavatel
- Hartung-Gorre
- Rok vydání
- 1999
- ISBN10
- 3896494988
- ISBN13
- 9783896494986
- Kategorie
- Skripta a vysokoškolské učebnice